FCC crystal の場合に，Crack-tipから(leading) partial dislocationが発生した後，同一slip面でtrailing dislocationが出てslipとなるか，隣合う次のslip面で新たな partial が発生してtwinningとなるかを，MD-FEM (or CADD) simulation と解析計算．
- twinning (双晶) は，複数層の stacking fault のようなもの．2つの twinning boundary 面に挟まれた領域は，他の部分とは結晶の方向が異なる．
- ２層のtwinning が形成されると，次の層も形成され易く(?)なるので，twinning が広がる傾向にある．
- trailing partial が出て，stacking fault が消える場合，crack-tip は blunting して，ductile になる傾向．
- twinning が形成される場合は，quasi-brittle になる傾向．
- pseudo 2D の crack-tip 周辺の領域は一辺 0.1 µm程度で，dislocation の activation barrier が 90%程度の精度(?)．
- MD-FEM は波の反射抑制機構が(基本的には)ないため，dynamics は怪しいが，有限温度での計算にすることで，逆にその問題は見え難くしている．
